Ваш браузер устарел и не обеспечивает полноценную и безопасную работу на сайте. Пожалуйста, обновление браузер, чтобы улучшить качество работы с сайтом.
Бессрочная гарантия Посмотреть подробности
Каталог
Микроскоп CNOptec MIT100
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки бинокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 1000
Подсветка галогенная
Расположение подсветки верхняя
Метод исследования светлое поле
Микроскоп CNOptec MIT300
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 500
Подсветка светодиодная
Расположение подсветки верхняя
Метод исследования светлое поле
Микроскоп CNOptec MIT500
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 500
Подсветка светодиодная
Расположение подсветки комбинированная
Метод исследования светлое поле
Микроскоп металлографический Mshot MJ22
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 600
Подсветка галогенная
Расположение подсветки комбинированная
Метод исследования поляризация, светлое поле
Микроскоп металлографический ММН-41
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 1000
Расположение подсветки верхняя
Метод исследования светлое поле, темное поле
Микроскоп металлографический BETICAL CR100-950HK, цифровой
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 500
Подсветка галогенная
Расположение подсветки верхняя
Метод исследования поляризация, темное поле
Микроскоп металлографический NBICOE MFM-B
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 1000
Подсветка галогенная
Расположение подсветки верхняя
Метод исследования светлое поле
Микроскоп металлографический NBICOE MFM-BD
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 1000
Подсветка галогенная
Расположение подсветки верхняя
Метод исследования светлое поле, темное поле
Микроскоп металлографический AMADA XUM200
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 800
Подсветка галогенная
Расположение подсветки верхняя
Метод исследования светлое поле
Микроскоп промышленный XSK-300 ДИК
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 20, 500
Подсветка галогенная
Расположение подсветки верхняя
Метод исследования ДИК, поляризация
Микроскоп металлографический AMADA XUM300
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 800
Подсветка галогенная
Расположение подсветки верхняя
Метод исследования поляризация, светлое поле
Микроскоп металлографический XJL-101
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 800
Подсветка галогенная
Расположение подсветки верхняя
Метод исследования поляризация, светлое поле
Микроскоп люминесцентный инвертированный МИБ-2-ФЛ
Тип биологические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 40, 600
Подсветка светодиодная, флуоресцентная
Расположение подсветки комбинированная
Метод исследования светлое поле, фазово-контрастная микроскопия, флуоресценция
Микроскоп CNOptec MIT200
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки бинокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 500
Подсветка галогенная
Расположение подсветки верхняя
Метод исследования светлое поле
Микроскоп металлографический Dr.Focal RMM-3
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 1000
Подсветка светодиодная
Расположение подсветки комбинированная
Метод исследования светлое поле
Микроскоп металлографический Dr.Focal RSMM-5
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 500
Подсветка светодиодная
Расположение подсветки комбинированная
Метод исследования светлое поле
Микроскоп Novel Optics NJC-160A
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 40, 400
Подсветка галогенная
Расположение подсветки комбинированная
Метод исследования светлое поле
Микроскоп Novel Optics NJC-160B
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 40, 400
Подсветка галогенная
Расположение подсветки комбинированная
Метод исследования светлое поле
Микроскоп металлографический инспекционный Dr.Focal IM-1000
Тип металлографические, световые/оптические
Тип насадки тринокулярная
Диапазон увеличения, крат 50, 1000
Расположение подсветки комбинированная
Метод исследования светлое поле
Фильтры